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同步輻射測試

同步輻射測試?yán)酶邚姸裙庠催M行材料結(jié)構(gòu)與性能分析，商業(yè)機時，合法穩(wěn)定數(shù)據(jù)可溯源！

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熱搜產(chǎn)品: 同步輻射吸收譜（XAFS）同步輻射XAFS數(shù)據(jù)擬合分析同步輻射GIWAXS/GISAXS測試

同步輻射吸收譜（XAS）

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure, XAFS)

X射線吸收譜(X-ray absorption spectroscopy, XAS )

同步輻射光源與傳統(tǒng)X光射源的最大差異為可提供能量連續(xù)且高強度的光源，同時具有極佳的偏振性。利用此特點的代表技術(shù)即為X射線吸收能譜（X-ray absorption spectroscopy: XAS），分為兩個觀測范圍：X射線近吸收邊精細(xì)結(jié)構(gòu)（XANES）及延伸X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（EXAFS）。

測試內(nèi)容：

XAFS軟線（100-1500eV）：如碳氮氧等元素XANES

中能（2000-5000eV）：如磷硫氯鉀鈣等元素（XANES ，XANES+EXAFS）

硬線（5000-22,000eV）：如鐵鈷鎳鋅鉑等元素 XANES+EXAFS

高能（22,000-33,000eV）：如鈀釕銀等元素XANES+EXAFS

原位測試：需要添加電壓、溫度、氣氛條件的XAFS。

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下一條：同步輻射數(shù)據(jù)擬合分析

J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 9280?9291

同步輻射XAFS數(shù)據(jù)擬合

同步輻射XAFS數(shù)據(jù)擬合分析

精準(zhǔn)的對材料進行配位結(jié)構(gòu)和電子結(jié)構(gòu)解析

分析內(nèi)容：

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)解析，可處理硬線及高能元素數(shù)據(jù)解析。結(jié)果包括 XANES、K空間擬合、R空間擬合、Wavelet Transform、配位信息表。

另外也可做LCF分析，近邊計算等。

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下一條：同步輻射 XRD

同步輻射XRD

同步輻射XRD與常規(guī)XRD表征一致，通過對材料進行X射線衍射，得到其衍射圖譜，可獲得材料的成分、內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。同步輻射光源自身具有光子高通量以及更高的準(zhǔn)直性等優(yōu)點，往往會得到更多、更強的衍射信號，這對后續(xù)的數(shù)據(jù)分析提供了更多的可能性。

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下一條：同步輻射全散射PDF

同步輻射全散射PDF

同步輻射全散射PDF分析是一種物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究方法，它可以通過同步輻射技術(shù)獲取X射線或中子的全散射模式，從而得到物質(zhì)的原子間距分布函數(shù)。同步輻射全散射PDF分析可用于研究材料科學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域。具有高分辨率、無需單晶體、非破壞性、多功能性等優(yōu)點。

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同步輻射散射測試（GIWAXS）

同步輻射散射數(shù)據(jù)處理

X光散射測試是分析X光作用待測物后的散射強度，輔以入射X光能量（波長）、散射角度等條件，用以了解待測物的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成及物理特性。其過程可外加溫度、壓力、腐蝕等不同條件，以達到對待測物的通盤了解。而掠角入射X光廣角散射（GIWAXS），對于表面及薄膜內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息（如分子尺寸、分布、排列、有序性等），提供從納米到微米尺度的結(jié)構(gòu)解析。

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