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測(cè)試狗科研服務(wù)

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具有多年XPS、DLS等操作經(jīng)驗(yàn)。精通XPS技術(shù)在材料表征上的應(yīng)用，尤其在催化、電池材料的峰形處理方面具有豐富經(jīng)驗(yàn)和實(shí)操技能。同時(shí)，在DLS樣品制備和濃度效應(yīng)分析上有獨(dú)到的理解和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。

馬騁

測(cè)試工程師

項(xiàng)目介紹

通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，得到其衍射圖譜，可獲得材料的成分、內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息，可用于物相鑒定、粒徑表征、點(diǎn)陣參數(shù)、結(jié)晶度、殘余應(yīng)力、晶體取向及織構(gòu)的測(cè)定，具有不損傷樣品、無污染、快捷、高精度、可獲取信息量大等優(yōu)點(diǎn)。

樣品要求

☆請(qǐng)盡量用樣品管盛裝粉末樣，用樣品袋盛裝難以刮下且易損失，可能影響測(cè)試效果。

1. 粉末樣至少50mg（如樣品密度偏大，請(qǐng)適量增加），粒度＜200目，手搓無明顯顆粒感，越細(xì)越好；

2. 塊體樣品需表面平整，尺寸在3*3*1cm以內(nèi)；

3. 塊體/薄膜樣品請(qǐng)注明測(cè)試面；

4. 較薄的薄膜/涂層樣品（厚度＜100nm）請(qǐng)慎重選擇廣角XRD；

5. 微區(qū)XRD樣品需標(biāo)記待測(cè)點(diǎn)，束斑最小為0.01mm，樣品高度應(yīng)不超過8mm，待測(cè)面應(yīng)平整光滑。

項(xiàng)目案列