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項(xiàng)目介紹

X光電子能譜法是一種表面分析方法，提供的是樣品表面的元素含量與形態(tài)，一般，其信息深度約為10nm以內(nèi)。如果輔以離子刻蝕手段，再利用XPS作為分析方法，則可以實(shí)現(xiàn)對樣品的深度分析。

樣品要求

1.預(yù)處理尺寸要求：塊狀/片狀/薄膜：長寬厚不超出1 cm × 1 cm × 3 mm（特殊大尺寸xps最高厚度不超過25mm，磁性樣品盡量小）（對塊狀樣品或薄膜樣品的測試面做好標(biāo)記）；粉末樣品大于200目，不少于10mg，量少請用稱量紙包好再裝到管子里寄送。請勿用手觸摸樣品表面，會引入污染。制好樣后請盡快密封，避免其他物質(zhì)污染；

2.送樣前樣品需充分干燥，否則影響儀器真空度。高分子樣品在送樣前應(yīng)進(jìn)行干燥處理。若含有高揮發(fā)性分子等請務(wù)必烘烤；

3.樣品含有硫或碘等鹵族元素請務(wù)必填寫或者提前告知，避免污染高真空系統(tǒng)；

4.樣品在超高真空及在X射線、紫外線、電子束或Ar離子束照射下應(yīng)穩(wěn)定，不分解、不釋放氣體。

項(xiàng)目案列