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項目介紹

X射線光電子能譜法是一種表面分析方法，提供的是樣品表面的元素含量與形態(tài)。

如果輔以離子刻蝕手段，再利用XPS作為分析方法，則可以實現(xiàn)對樣品的深度分析。

一、XPS的特點

1. 可以分析除 H 和 He 以外的所有元素；

2. 提供有關(guān)化學(xué)鍵方面的信息，即直接測量價層電子及內(nèi)層電子軌道能級；

3. 是一種高靈敏超微量的表面分析技術(shù)，分析所需試樣量極少，樣品分析深度為0.5-10nm 。

二、XPS的應(yīng)用

1. 元素定性分析

2. 元素半定量分折

3. 固體表面分析

4. 化合物結(jié)構(gòu)鑒定

樣品要求

1. 預(yù)處理尺寸要求：塊體/片狀/薄膜：長寬厚不超出1 × 1 × 0.3 cm（磁性樣品盡量?。▽K狀樣品或薄膜樣品的測試面做好標(biāo)記）；粉末樣品大于200目，不少于10mg，量少的請用稱量紙包好再裝到管子里寄。請勿用手觸摸樣品表面，會引入污染；制好樣后請盡快密封，避免其他物質(zhì)污染；

2. 送樣前樣品需充分干燥，否則影響儀器真空度；高分子樣品在送樣前應(yīng)進(jìn)行干燥處理；若含有高揮發(fā)性分子等，請務(wù)必烘烤；

3. 樣品含有硫或碘等鹵族元素請務(wù)必填寫或者提前告知，避免污染高真空系統(tǒng)；

4. 樣品在超高真空及在X射線、紫外線、電子束或Ar離子束照射下應(yīng)穩(wěn)定，不分解、不釋放氣體。

項目案列