熱線：400-152-6858
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（SEM）
TEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)
SEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)
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原位微分電化學(xué)質(zhì)譜儀（DEMS）
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生物樣SEM
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藥物設(shè)計(jì)與篩選及驗(yàn)證技術(shù)
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量子化學(xué)-靜電勢(shì)
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量子化學(xué)-吸收譜
固體力學(xué)分析
光學(xué)-鏡頭光路模擬
計(jì)算流體力學(xué)-氣動(dòng)聲學(xué)
計(jì)算流體力學(xué)-氣動(dòng)性能計(jì)算
相圖計(jì)算
VASP軟件版權(quán)
機(jī)器學(xué)習(xí)
生命周期評(píng)估(LCA)
機(jī)時(shí)租用
同步輻射原位表征測(cè)試
原位電化學(xué)電子自旋共振波譜儀（ESR/EPR）
原位電化學(xué)拉曼
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同步輻射吸收譜（XAFS）
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同步輻射GIWAXS/GISAXS測(cè)試
同步輻射XRD
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同步輻射散射數(shù)據(jù)處理
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同步輻射紅外測(cè)試
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