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XRF測(cè)試類(lèi)型介紹：波長(zhǎng)色散型和能量色散型

來(lái)源：時(shí)間：2024-09-26 09:35:33 瀏覽：822次

XRF測(cè)試類(lèi)型介紹：波長(zhǎng)色散型和能量色散型

X射線熒光（XRF）分析是一種非破壞性技術(shù)，用于確定材料中元素的種類(lèi)和含量；XRF技術(shù)主要分為兩種類(lèi)型：波長(zhǎng)色散型（Wavelength Dispersive Spectrometry, WDS）和能量色散型（Energy Dispersive Spectrometry, EDS）。

一、波長(zhǎng)色散型XRF（WDS）

1. 原理：波長(zhǎng)色散型XRF利用晶體的衍射效應(yīng)，將X射線按照波長(zhǎng)（或能量）分散成不同的譜線；當(dāng)樣品被X射線激發(fā)后，發(fā)射出特征X射線，通過(guò)分光晶體將不同波長(zhǎng)的X射線分開(kāi)，然后由探測(cè)器接收特定波長(zhǎng)的X射線，從而實(shí)現(xiàn)元素的分析。

2. 特點(diǎn)

（1）高分辨率：WDS采用分光晶體，能夠有效地分離相鄰元素的特征譜線，具有較高的分辨率。

（2）高靈敏度：WDS可以檢測(cè)到樣品中痕量元素的含量。

（3）穩(wěn)定性好：WDS受環(huán)境因素影響較小，重復(fù)性和穩(wěn)定性較好。

3. 操作步驟

（1）樣品制備：將待測(cè)樣品加工成適合XRF測(cè)試的形狀和尺寸。

（2）安裝分光晶體：根據(jù)待測(cè)元素選擇合適的分光晶體和探測(cè)器。

（3）設(shè)置參數(shù)：調(diào)整X射線管電壓、電流等參數(shù)，確保樣品激發(fā)效果。

（4）數(shù)據(jù)采集：?jiǎn)?dòng)X射線源，收集特征X射線，通過(guò)分光晶體分光，由探測(cè)器接收信號(hào)。

（5）數(shù)據(jù)分析：根據(jù)特征譜線強(qiáng)度，分析樣品中元素的種類(lèi)和含量。

4. 應(yīng)用：WDS廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、礦產(chǎn)、環(huán)境、材料等領(lǐng)域，特別是在精確測(cè)定元素含量和痕量元素分析方面具有優(yōu)勢(shì)。

二、能量色散型XRF（EDS）

1. 原理：能量色散型XRF利用探測(cè)器將接收到的X射線按照能量轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，通過(guò)電子學(xué)電路放大和處理，得到元素的特征譜線；與WDS不同，EDS不需要分光晶體，可以直接分析樣品中所有元素。

2. 特點(diǎn)

（1）快速分析：EDS可以同時(shí)檢測(cè)樣品中所有元素，分析速度快。

（2）操作簡(jiǎn)便：無(wú)需更換分光晶體，操作簡(jiǎn)單。

（3）探測(cè)器體積小：便于與掃描電子顯微鏡（SEM）等設(shè)備配合使用。

3. 操作步驟

（1）樣品制備：將待測(cè)樣品加工成適合XRF測(cè)試的形狀和尺寸。

（2）安裝探測(cè)器：將EDS探測(cè)器安裝在SEM等設(shè)備上。

（3）設(shè)置參數(shù)：調(diào)整X射線管電壓、電流等參數(shù)，確保樣品激發(fā)效果。

（4）數(shù)據(jù)采集：?jiǎn)?dòng)X射線源，收集特征X射線，通過(guò)探測(cè)器轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。

（5）數(shù)據(jù)分析：根據(jù)特征譜線能量，分析樣品中元素的種類(lèi)和含量。

4. 應(yīng)用：EDS廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域，特別是在快速定性分析和元素分布分析方面具有優(yōu)勢(shì)。

三、優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比

1. WDS：分辨率高、靈敏度好、穩(wěn)定性好；分析速度較慢，操作相對(duì)復(fù)雜，設(shè)備成本較高。

2. EDS：分析速度快，操作簡(jiǎn)便，設(shè)備成本較低；分辨率相對(duì)較低，受環(huán)境因素影響較大。

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