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    精品干貨:XPS原始數(shù)據(jù)處理(含分峰擬合)
    來(lái)源:研之成理 時(shí)間:2020-04-11 15:36:10 瀏覽:16675次

    本文轉(zhuǎn)載自研之成理

    前言:

    前面兩期我們對(duì)XPS的基本原理,XPS譜線類型等進(jìn)行了分享。今天咱們更進(jìn)一步,從測(cè)試中得到的原始數(shù)據(jù)開(kāi)始談起,分享一下XPS原始數(shù)據(jù)的處理,希望對(duì)大家有所幫助。


    前期內(nèi)容:

    1.XPS——一切從原理開(kāi)始

    2. XPS譜圖都包括些啥?



    在前面兩期分享中,我們都提到XPS定性分析包括全譜掃描和高分辨譜,其中全譜掃描不需要經(jīng)過(guò)特別的處理,因此在這里不做過(guò)多介紹,大家對(duì)照前兩期內(nèi)容應(yīng)該很容易實(shí)現(xiàn)全譜分析,得到自己想要的信息(主要是樣品所含元素種類的鑒定),這里主要介紹高分辨譜的數(shù)據(jù)處理與分析。


    1. XPS高分辨譜可以拿到什么數(shù)據(jù)?

    一般而言,大家在做高分辨譜的時(shí)候,是期望看到表面某些元素的電子結(jié)構(gòu)信息,判斷該元素的化學(xué)態(tài)以及所處的化學(xué)環(huán)境等等,進(jìn)而說(shuō)明樣品的表面結(jié)構(gòu)或其變化。故此,XPS的高分辨一定是有針對(duì)性的,所要測(cè)的元素也是大家很明了的。

    在上一期我們說(shuō)過(guò),對(duì)于絕緣體或者半導(dǎo)體而言,具有荷電效應(yīng),因此除了大家想要測(cè)的元素之外,一般測(cè)試的時(shí)候還需要測(cè)一個(gè)C的高分辨譜,用于荷電校正。

    國(guó)內(nèi)像XPS這樣的大型儀器一般都有專人進(jìn)行測(cè)試,因此我們所得到的原始數(shù)據(jù)一般為xls文件。下圖所示為Pb3O4的XPS原始數(shù)據(jù),除了Pb, O之外,還有C的高分辨譜以及各元素的半定量分析結(jié)果。


    2. 荷電校正

       拿到XPS高分辨譜,第一步是要進(jìn)行荷電校正,得到準(zhǔn)確的結(jié)合能數(shù)據(jù)。那么如何進(jìn)行校正呢?上一期分享中我們已經(jīng)說(shuō)過(guò),荷電校正一般將外來(lái)污染碳(284.8 eV)作為基準(zhǔn)。具體如何操作呢?


    A. 計(jì)算荷電校正值。

    具體操作:將C1s的數(shù)據(jù)復(fù)制到origin中,做成曲線圖,并通過(guò)數(shù)據(jù)讀取工具來(lái)識(shí)別C1s譜中的峰值坐標(biāo)(主要是結(jié)合能)。


    以下圖為例,C1s的結(jié)合能為284.5 eV,而外來(lái)污染碳的標(biāo)準(zhǔn)值為284.8 eV,因此,荷電校正值為284.8-284.5 eV=0.3 eV。也就是說(shuō),此次測(cè)試的這個(gè)樣品,所有元素的結(jié)合能均需要+0.3 eV作為荷電校正從而得到準(zhǔn)確的結(jié)合能值。





    補(bǔ)充說(shuō)明:對(duì)于樣品中本身就含碳的樣品,采用C1s來(lái)進(jìn)行荷電校正的時(shí)候一定要小心。如果樣品本身導(dǎo)電,實(shí)際上可以不用荷電校正。如果樣品本身導(dǎo)電性較差,而樣品中又含碳,那么需要對(duì)樣品進(jìn)行分峰,分峰之后找到外來(lái)污染碳的譜峰,將其作為基準(zhǔn)進(jìn)行校正才是準(zhǔn)確的(并不是哪個(gè)峰最強(qiáng)就將其作為基準(zhǔn))。實(shí)際上,荷電校正值一般不會(huì)超過(guò)0.5 eV. 如果本身含碳,也可以采用噴金的方法,以Au4f7/2(84.0 eV)作為基準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行荷電校正。


    B. 對(duì)每一個(gè)高分辨譜進(jìn)行荷電校正

    具體操作:將各元素的元素?cái)?shù)據(jù)(結(jié)合能與譜線強(qiáng)度)拷貝到origin中,以結(jié)合能為X軸,譜線強(qiáng)度為Y軸,將X軸加上荷電校正值對(duì)其進(jìn)行荷電校正。


    下圖所示為具體操作(荷電校正值為上面所算的0.3 eV):


    經(jīng)過(guò)這樣的操作之后,origin的表中所顯示的就是校正過(guò)之后的結(jié)合能與譜峰強(qiáng)度。



    3. 數(shù)據(jù)分析

    高分辨譜經(jīng)過(guò)分峰擬合之后,就可以用來(lái)確定元素的化學(xué)態(tài)了,或者通過(guò)反應(yīng)前后樣品的高分辨譜圖對(duì)比來(lái)得到其表面電子結(jié)構(gòu)的變化信息等等。相關(guān)內(nèi)容上期已經(jīng)討論過(guò)了,這里不再重復(fù)。今天的重點(diǎn)是XPS高分辨譜的分峰擬合。


    其實(shí)我們?cè)诜窒韔rigin教程的時(shí)候,有提到用origin進(jìn)行數(shù)據(jù)的分峰擬合,不過(guò)XPS的數(shù)據(jù)處理采用更加專業(yè)的軟件會(huì)更加方便,比如XPSpeak, CASAXPS等,這里我們簡(jiǎn)單來(lái)分享下XPSpeak 的使用。


    XPSpeaks分峰擬合:

    第一步:將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為txt格式

    具體操作:將荷電校正過(guò)之后的數(shù)據(jù)拷貝到一個(gè)新建的txt文件中。

    關(guān)鍵點(diǎn):第一行要直接以數(shù)據(jù)開(kāi)始,最后一行以數(shù)據(jù)結(jié)束,不能有空行或其他文字,否則將無(wú)法導(dǎo)入XPSpeak 4.1軟件中。



    第二步:利用XPS peak軟件導(dǎo)入txt文件

    具體操作如下圖所示:



    第三步:建立基線

    具體操作:點(diǎn)擊菜單中Background,在彈出來(lái)的窗口中High BE和Low BE的數(shù)據(jù)是自動(dòng)讀取的,不需要改變

    Background type一般選取Shirley,基線的優(yōu)化主要靠Shirley+Linear的Slope來(lái)實(shí)現(xiàn),可以手動(dòng)輸入數(shù)值,然后點(diǎn)擊accept就可以看到基線了,如果覺(jué)得基線不是特別好,可以通過(guò)改變Slope的值進(jìn)行調(diào)整。


    第四步:加峰

    具體操作:點(diǎn)擊Add peak會(huì)彈出一個(gè)新窗口,在Peak Type處選擇s、p、d、f等峰類型(根據(jù)需要來(lái)選,不影響分峰),S.O.S選0. 

    在Position處輸入希望的峰位,需固定時(shí)則點(diǎn)fix前小方框,同法還可選半峰寬(FWHM)、峰面積等。

    設(shè)置好之后,點(diǎn)擊accept添加該峰。




    同樣的方式,可以添加第二個(gè)峰。對(duì)于p,d,f軌道而言,譜線都有裂分,裂分的峰之間存在一定的關(guān)系,需要特別注意,以下為常見(jiàn)規(guī)則:


    A. 對(duì)于p、d、f等能級(jí)的次能級(jí)(如p3/2、p1/2,為簡(jiǎn)便省略/2,簡(jiǎn)稱為p3、p1)強(qiáng)度比是一定的,p3:p1=2:1;d5:d3=3:2,f7:f5=4:3。在峰擬合過(guò)程中要遵循該規(guī)則。如Pb4f中同一價(jià)態(tài)的Pb4f7和Pb4f5峰面積比應(yīng)為4:3。


    B.對(duì)于有能級(jí)分裂的能級(jí)(p、d、f),分裂的兩個(gè)軌道間的距離也基本上是固定的. 如同一價(jià)態(tài)的W4f7和W4f5之間的距離為2.15eV左右,Si2p3和Si2p1差值為1.1eV左右,具體化學(xué)狀態(tài)下能級(jí)分裂的兩個(gè)軌道之間的距離會(huì)有不同。


    C.對(duì)于同一元素的裂分軌道而言,其半峰寬應(yīng)該盡量接近一致。對(duì)于同一儀器及儀器參數(shù),各數(shù)據(jù)的GL高斯-洛倫茲比應(yīng)保持一致(一般直接采用默認(rèn)值80)。


    具體操作:以峰面積為例,peak 1和peak 0分別對(duì)應(yīng)Pb 4f軌道的兩個(gè)裂分能級(jí)(對(duì)應(yīng)f5和f7),那么兩者之間的峰面積存在數(shù)量關(guān)系f7:f5=4:3. 如何設(shè)置?點(diǎn)擊Area下的Constraints,

    在彈出的窗口中,勾上Use前的方框,然后構(gòu)建關(guān)系式Peak 1=Peak 0*0.75. 然后點(diǎn)擊OK設(shè)置完畢。類似的Peak1 和Peak 0之間的Position間距也可以設(shè)置。



    同樣的方式,可以添加peak 2和peak 3(為另一對(duì)峰),設(shè)置好它們之間的數(shù)量關(guān)系等。然后點(diǎn)擊Optimise All(可以多次點(diǎn)擊進(jìn)行優(yōu)化),得到一個(gè)初步的分峰結(jié)果。如下圖所示。




    第五步:手動(dòng)修正

    在此基礎(chǔ)上,手動(dòng)調(diào)節(jié)峰的面積,半峰寬等參數(shù),盡可能讓擬合出來(lái)的數(shù)據(jù)和原始數(shù)據(jù)重合。在設(shè)置參數(shù)的過(guò)程中,請(qǐng)謹(jǐn)記上面所述A,B,C等分峰規(guī)則。


    具體操作:分別點(diǎn)另一個(gè)窗口中的Rigion Peaks下方的0、1、2等可看每個(gè)峰的參數(shù),此時(shí)XPS峰中變紅的為被選中的峰。在彈出來(lái)的參數(shù)窗口中調(diào)整峰位置,半峰寬,峰面積等參數(shù),然后點(diǎn)擊accept。反復(fù)調(diào)節(jié),盡可能讓擬合出來(lái)的數(shù)據(jù)和原始數(shù)據(jù)重合。


    第六步:擬合數(shù)據(jù)保存與導(dǎo)出

    擬合完畢之后,點(diǎn)擊XPS peak processing 中的Save XPS,將擬合結(jié)果存儲(chǔ)為.xps文件。存儲(chǔ)之后,下回要繼續(xù)處理時(shí),只需要點(diǎn)Open XPS就可以打開(kāi)這副圖繼續(xù)進(jìn)行處理了。


    當(dāng)擬合結(jié)果滿意了之后,需要將數(shù)據(jù)導(dǎo)出成txt文件,以方便在origin中作圖。


    具體操作:在Region 1中,Data-->Export(Spectrum),導(dǎo)出為.dat文件。該文件可以直接拖動(dòng)到origin中,用origin打開(kāi)。接下來(lái)就是origin作圖了,這里就不重復(fù)了。



    至此,XPS原始數(shù)據(jù)的處理就差不多了。



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    文字是人類用符號(hào)記錄表達(dá)信息以傳之久遠(yuǎn)的方式和工具?,F(xiàn)代文字大多是記錄語(yǔ)言的工具。人類往往先有口頭的語(yǔ)言后產(chǎn)生書(shū)面文字,很多小語(yǔ)種,有語(yǔ)言但沒(méi)有文字。文字的不同體現(xiàn)了國(guó)家和民族的書(shū)面表達(dá)的方式和思維不同。文字使人類進(jìn)入有歷史記錄的文明社會(huì)。
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