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聚焦離子束FIB的優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)：技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)探討

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2024-09-05

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FIB聚焦離子束技術(shù)在檢測(cè)樣品時(shí)樣品的制備流程解析

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2023-12-18

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聚焦離子束（FIB）助力新型材料研究與開發(fā)

聚焦離子束（ FIB ）助力新型材料研究與開發(fā) 聚焦離子束（ FIB ）技術(shù)是一種利用靜電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的微切割技術(shù) ，其原理是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過聚焦，形成具有高能量、高束流密度的離子束，通過控制離子束的掃描路徑，可以在材料表面進(jìn)行納米級(jí)的切割、刻蝕和修飾等操作； FIB...

2023-12-05

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FIB + SEM/TEM: 能量超乎你的想象！

為充分理解材料的“結(jié)構(gòu)-組成-性能”三要素之間的關(guān)系，科學(xué)界發(fā)展了許多成像和組分分析技術(shù)，SEM和TEM就是表征這方面的常用儀器。SEM能夠?qū)Σ牧媳砻娴慕Y(jié)構(gòu)形貌和成分組成進(jìn)行分析，但是無法獲取材料內(nèi)部信息；TEM雖然能夠?qū)Ψ从吵鰳悠穬?nèi)部及表面信息的薄膜樣品進(jìn)行形貌、成分和結(jié)構(gòu)分析，但是前提是要制備...

2023-11-23

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關(guān)于聚焦離子束（ FIB ）的基本原理、主要用途及應(yīng)用優(yōu)勢(shì) 聚焦離子束（ FIB ， Focused Ion Beam ）是一種先進(jìn)的納米級(jí)加工和分析技術(shù)，它結(jié)合了離子束技術(shù)和掃描電子顯微鏡（ SEM ）技術(shù)，具有廣泛的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)。一、基本原理聚焦離子束顯微鏡系統(tǒng)由液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生離子束...

2023-11-21

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FIB-SEM電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢(shì)

FIB-SEM 電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢(shì) 掃描電子顯微鏡（ SEM ）是一種廣泛應(yīng)用于材料表面形貌、形變及組成分析的設(shè)備。然而，在處理一些復(fù)雜、不規(guī)則的樣品以及需要進(jìn)行精細(xì)切割、觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)的樣品時(shí)，傳統(tǒng)的 SEM 存在局限性。為了克服這些限制，聚焦離子束 - 掃描電子顯微鏡（ FIB-...

2023-10-08

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FIB聚焦離子束切片分析的實(shí)驗(yàn)步驟

FIB 聚焦離子束切片分析的實(shí)驗(yàn)步驟 FIB 聚焦離子束切片分析是一種重要的材料表征技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子器件研究和納米技術(shù)領(lǐng)域。 FIB 切片分析可以通過利用離子束在材料表面產(chǎn)生的刻蝕作用，將材料切割成非常薄的切片，從而提供了對(duì)材料結(jié)構(gòu)和成分的詳細(xì)觀察和分析的能力。 FIB 切片分析的...

2023-05-23

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聚焦離子束FIB測(cè)試的計(jì)量技術(shù)規(guī)范盤點(diǎn)

聚焦離子束系統(tǒng)采用聚焦的離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行轟擊，并由計(jì)算機(jī)控制離子束的掃描或加工軌跡、步距、駐留時(shí)間和循環(huán)次數(shù)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的成像、刻蝕、誘導(dǎo)沉積和注入的分析系統(tǒng)。其應(yīng)用已經(jīng)從界面檢測(cè)擴(kuò)展到納米圖像制備、透射樣品制備、三維成像和分析、電路編輯和修復(fù)等，在材料科學(xué)、生物、半導(dǎo)體集成電路、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)...

2022-11-14

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