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    電子背散射衍射EBSD測(cè)試的具體分析功能

    電子背散射衍射 EBSD 測(cè)試的具體分析功能 電子背散射衍射( EBSD ) ,又稱為電子背向散射衍射或取向成像顯微術(shù)( OIM ),是一種在 掃描電子顯微鏡( SEM ) 中用于進(jìn)行晶體學(xué)和取向分析的技術(shù)。 EBSD 技術(shù)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行微觀尺度上的晶體取向、晶界特性、相鑒定以及應(yīng)變分析等,是材料...

    2024-10-11

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    電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)及其應(yīng)用

    電子背散射衍射 (EBSD) 技術(shù)及其應(yīng)用 電子背散射衍射( Electron Backscatter Diffraction , EBSD )是一種用于晶體材料微觀結(jié)構(gòu)分析的先進(jìn)技術(shù) ;它利用電子束在樣品表面的背散射現(xiàn)象,結(jié)合衍射原理,來(lái)分析樣品表面的晶體取向和晶粒結(jié)構(gòu)。 一、基本原理 1. 電...

    2024-09-23

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    EBSD電子背散射衍射技術(shù)的原理及應(yīng)用

    EBSD電子背散射衍射技術(shù)的原理及應(yīng)用 電子背散射衍射( Electron Backscatter Diffraction, EBSD )是一種先進(jìn)的材料表征技術(shù),用于晶體學(xué)、相分析、晶體取向和應(yīng)力狀態(tài)的定量分析 ; EBSD 技術(shù)結(jié)合了電子顯微鏡的成像能力和晶體學(xué)衍射原理,為材料科學(xué)和工程學(xué)領(lǐng)域...

    2024-08-15

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    原位EBSD測(cè)試技術(shù):微觀結(jié)構(gòu)分析的利器

    原位 EBSD 測(cè)試技術(shù):微觀結(jié)構(gòu)分析的利器 原位電子背散射衍射 ( EBSD )技術(shù)是一種強(qiáng)大的顯微結(jié)構(gòu)分析工具,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)和生物學(xué)等領(lǐng)域。它利用 掃描電子顯微鏡 ( SEM )的高分辨率成像能力和 電子背散射衍射 ( EBSD )圖案分析,實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的定量分析和晶體學(xué)...

    2024-06-24

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    EBSD一瞥:原子級(jí)別晶體解析

    EBSD一瞥:原子級(jí)別晶體解析 電子背散射衍射( EBSD)技術(shù) 是一種強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù),用于在原子級(jí)別上解析晶體結(jié)構(gòu) , 通過(guò)結(jié)合 掃描電子顯微鏡( SEM) 和晶體學(xué)原理,EBSD技術(shù)能夠提供關(guān)于晶體取向、缺陷和應(yīng)變分布的詳細(xì)信息。 工作原理 EBSD技術(shù)利用掃描電子顯微鏡產(chǎn)生的高能電子束照射...

    2024-06-07

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    電子背散射衍射EBSD技術(shù): 揭示材料晶體結(jié)構(gòu)的放大鏡

    電子背散射衍射 EBSD 技術(shù) : 揭示材料晶體結(jié)構(gòu)的放大鏡 電子背散射衍射 EBSD 技術(shù)是一種強(qiáng)大的顯微結(jié)構(gòu)分析工具,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域。通過(guò)結(jié)合 SEM 掃描電子顯微鏡 和晶體學(xué)原理, EBSD 技術(shù)能夠提供關(guān)于材料晶體結(jié)構(gòu)、取向分布和相變等重要信息。本文將介紹 EBSD 技術(shù)的基本原理...

    2024-05-15

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    電子背散射衍射(EBSD)制樣技術(shù)(離子減薄)

    試樣的切割、尺寸及形狀 EBSD試樣切割時(shí)應(yīng)避開(kāi)有缺陷的地方,選擇有代表性的部位。最好采用線切割的方法,由于電火花加工時(shí)產(chǎn)生的創(chuàng)面小,無(wú)大的沖擊力,相應(yīng)的變形層和相變較小,同時(shí)要求加工的試樣形狀規(guī)則,尺寸精確,加上線切割產(chǎn)生的表面浮雕、氧化層及磨損量等因素,試樣的厚度應(yīng)在0.5mm到3mm之間為宜...

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